首頁 安全政策 IT服務架構 測試資訊服務
Web-EDAS 網際網路化測試資料管理系統
 
 
- 品質資料 (RT 率 , 不良品及其對應之原因碼等等 )
- 單片 / 整批之 Bin 別摘要、單片 / 累積式晶圓 Bin Map
- 晶圓相互驗證 ( 良率 /Map 比較、相互驗證報告 )
- 一般給封裝廠之 Pass/Fail Map
- 修復資料 ( 用於雷射修補 )
- 良率趨勢分析圖

Web-WIP 網際網路化生產製造管理系統
 
 
-整批良率 / 整批生產狀況 ;
-由晶圓直至成品測試的整批歷史資料 (Turnkey)
-產品測試資料之歷史追蹤
-產品 / 製程追蹤 (依生產工單)

客製化
 
 
-建立個別的客戶專案
-依顧客需要配合產生不同型式之報告

原始資料經客戶指定方式傳回
 

 
- 單片 / 整批摘要資料、晶圓 Bin Map
- 提供 Pass/Fail Map 給封裝廠